Analyse métrologique de la shearographie
TAILLADE
Type de document
COMMUNICATION AVEC ACTES NATIONAL (ACTN)
Langue
français
Auteur
TAILLADE
Résumé / Abstract
Ce papier présente un bilan d'incertitude de la mesure de la phase optique à partir d'une analyse métrologique fondée sur l'approche "GUM" (GUM, 1993). Ce bilan tient compte du mode opératoire mis en oeuvre dans l'étalonnage du dispositif déphaseur et dans la mesure de phase proprement dite. Cette étude conduit à estimer l'incertitude type sur la mesure de la différence de marche de chemin optique à environ /98. Cette valeur est en bon accord avec une estimation purement expérimentale menée à l'ONERA (Taillade, 2000) conduisant à une incertitude type de l'ordre de /108.
