Un Algorithme EM pour l'analyse de durée de vie des marquages routiers rétro-réfléchissants
An EM Algorithm for a retroreflective road makings time life analysis
REDONDIN ; FAUL ; BOUILLAUT ; SAME ; DAUCHER
Type de document
COMMUNICATION AVEC ACTES INTERNATIONAL (ACTI)
Langue
français
Auteur
REDONDIN ; FAUL ; BOUILLAUT ; SAME ; DAUCHER
Résumé / Abstract
Les marquages routiers ont un rôle crucial dans la sécurité routière. C'est pour cela que les véhicules autonomes se dotent de capteurs capables de les lire. Pour une détection optimale des marquages, un plan de maintenance adapté est souhaitable. Une première analyse de Weibull, basée sur la méthode du maximum de vraisemblance, met en avant le problème de durées de vie censurées des marquages dû aux plans d'inspections actuels. Afin d'estimer les instants de défaillances, plusieurs alternatives basées sur un algorithme EM sont disponibles. Cet article propose d'adapter l'algorithme de Pradhan & Kundu dans le cadre des marquages routiers. Afin de contrôler l'impact des défaillances estimées sur les lois de Weibull produites, plusieurs tests d'adéquations classiques sont présentés. Une inspection semestrielle est finalement recommandée. Les marquages routiers ont un rôle crucial dans la sécurité routière. C'est pour cela que les véhicules autonomes se dotent de capteurs capables de les lire. Pour une détection optimale des marquages, un plan de maintenance adapté est souhaitable. Une première analyse de Weibull, basée sur la méthode du maximum de vraisemblance, met en avant le problème de durées de vie censurées des marquages dû aux plans d'inspections actuels. Afin d'estimer les instants de défaillances, plusieurs alternatives basées sur un algorithme EM sont disponibles. Cet article propose d'adapter l'algorithme de Pradhan & Kundu dans le cadre des marquages routiers. Afin de contrôler l'impact des défaillances estimées sur les lois de Weibull produites, plusieurs tests d'adéquations classiques sont présentés. Une inspection semestrielle est finalement recommandée.
