Strain measurement in thin layer helium implanted polycrystal using X-Ray micro diffraction
IBRAHIM ; CASTELIER ; BORNERT ; PALANCHER ; CARE ; MICHA
Type de document
COMMUNICATION AVEC ACTES INTERNATIONAL (ACTI)
Langue
anglais
Auteur
IBRAHIM ; CASTELIER ; BORNERT ; PALANCHER ; CARE ; MICHA
Résumé / Abstract