Strain measurement in thin layer helium implanted polycrystal using X-Ray micro diffraction

IBRAHIM ; CASTELIER ; BORNERT ; PALANCHER ; CARE ; MICHA

Type de document
COMMUNICATION AVEC ACTES INTERNATIONAL (ACTI)
Langue
anglais
Auteur
IBRAHIM ; CASTELIER ; BORNERT ; PALANCHER ; CARE ; MICHA
Résumé / Abstract

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