Méthode de mesure pour caractériser la susceptibilité de composants logiques
MARECHAL ; KLINGLER ; HEDDEBAUT ; DEMOULIN
Type de document
COMMUNICATION AVEC ACTES NATIONAL (ACTN)
Langue
francais
Auteur
MARECHAL ; KLINGLER ; HEDDEBAUT ; DEMOULIN
Résumé / Abstract
DES CHAMPS ELECTROMAGNETIQUES HAUTE FREQUENCE SONT SOUVENT A L'ORIGINE DE DYSFONCTIONNEMENTS D'EQUIPEMENTS ELECTRONIQUES NUMERIQUES. LA CAUSE DE CES DYSFONCTIONNEMENTS EST LIEE A L'APPARITION DE TENSIONS PARASITES QUI PARVIENNENT SUR LES VOIES DE COMMUNICATION DES COMPOSANTS ELECTRONIQUES LOGIQUES. DES TRAVAUX RECENTS ONT MONTRE QUE LA SENSIBILITE DES COMPOSANTS A CE GENRE DE PARASITE DEPEND BEAUCOUP DE LEUR TECHNOLOGIE. IL DEVIENT DONC IMPORTANT POUR LES CONCEPTEURS D'EQUIPEMENTS DE CONNAITRE CES SEUILS DE SENSIBILITE ET POUR CELA DE DISPOSER DE METHODES DE MESURE PERMETTANT DE LES EVALUER. LA COMMUNICATION EST CONSACREE A LA MISE EN OEUVRE D'UNE TELLE METHODE, BASEE SUR DES CRITERES DE REPRODUCTIBILITE SATISFAISANTS QUI POURRAIENT S'ACCORDER AVEC L'ELABORATION DE FUTURES NORMES VISANT A REPRODUIRE CE GENRE DE MESURES.
