Élaboration d'un modèle numérique d'une famille de composants logiques pour la description des phénomènes en compatibilité électromagnétique
WALTER
Type de document
RAPPORT DE STAGE
Langue
francais
Auteur
WALTER
Résumé / Abstract
Aux bornes des composants électroniques, les perturbations électromagnétiques se traduisent sous la forme de courants et de tensions supplémentaires. Ces travaux ont permis de mieux comprendre le comportement des composants logiques face à ces perturbations, ils signalent que les modèles numériques actuels sont inadaptés aux problèmes de compatibilité électromagnétique (CEM). Dans une première partie, nous exposons brièvement les modèles existants et rappelons les résultats de plusieurs thèses récentes. Nous indiquons ensuite les contraintes pratiques qu'impliquent une analyse de susceptibilité ainsi que la complexité des composants numériques (ASIC, microprocesseurs,...). Puis, nous présentons l'approche que nous avons adoptée pour créer des modèles convenants aux simulations de CEM : cette nouvelle modélisation consistant à considérer uniquement les interfaces d'entrée/sortie et les phénomènes parasites dus à la technologie de fabrication. Dans une seconde partie, nous étudions, en régime statique, la quadruple porte NAND 74lS00 et son schéma interne fourni par le constructeur. Les résultats, qui mettent en évidence les premières différences, vont nous permettre d'élaborer deux modèles. L'un est basé sur la structure de la porte logique élémentaire, l'autre, construit essentiellement à partir des mesures, reproduit les impédances que présentent les interfaces d'entrée/sortie du composant. En dernier lieu, nous effectuons le bilan de ces travaux. Nous indiquons quelles sont les suites possibles à donner à cette étude qui s'inscrit dans un programme de recherche nationale. (Etude encadrée par M. KLINGLER - Resp. INRETS-LEOST).
