Institut Français des Sciences et Technologies des Transports, de l'Aménagement et des Réseaux

Type de document

THESE

Langue

francais

Auteur

MARECHAL

Résumé / Abstract

Nous étudions l'influence de la technologie et de l'association des composants logiques sur la sensibilité électromagnétique des cartes électroniques. Dans une première partie, nous analysons le comportement d'un dispositif sous test simple vis-à-vis d'une perturbation électromagnétique de mode rayonné. Ce dispositif sous test est constitué de deux portes inverseuses connectées en série par une ligne de transmission couplée à l'onde électromagnétique. Un outil statistique est développé afin de caractériser les défauts statiques qui apparaissent en sortie sur les états logiques pour des perturbations de forte amplitude. Nous utilisons également une méthode de mesure visualisant l'excursion du signal perturbé selon l'amplitude du champ électrique. Après avoir étudié l'association de différentes familles d'une part de la technologie CMOS (hc et hcu) et d'autre part de la technologie TTL (ls, als, as, f et s), nous analysons la propagation des perturbations le long d'une chaine de composants logiques. Nous utilisons le logiciel PSPICE afin de simuler les signaux induits sur la ligne de transmission. Dans une deuxième partie, nous appliquons nos résultats expérimentaux afin de tenter d'améliorer la sécurité de systèmes redondants soumis à une perturbation électromagnétique. Pour ce faire, nous étudions la sensibilité électromagnétique d'une fonction de sécurité effectivement implantée sur un système de transport. La sécurité de la carte est fondée sur une redondance matérielle : une des voies de traitement de l'information emploie la technologie CMOS et l'autre voie la technologie TTL.